1. Alpha spectrometric characterization of thin ²³³U sources for ²²⁹(m)Th production Autoren: Haas, Raphael; Hufnagel, Michelle; Abrosimov, Roman; Düllmann, Christoph E; Krupp, Dominik; Mokry, Christoph; Renisch, Dennis; Runke, Jörg; Scherer, Ulrich W Veröffentlichungsdatum: 2020 Typ: Preprint